研发设备现状
致力于提高客户生活品质，为创造更美好的世界做出贡献。
ANC韩国通过最先进的研发设备，致力于开发品质与技术力卓越的产品。
分析检测设备
SEM（扫描电子显微镜）SNE-4500M
SEC, 美国
利用电子束扫描试样表面，观察微细组织和形貌的设备。具有高分辨率，可观察纳米级结构，是材料表面分析和品质检查的必备设备。
XRF（X射线荧光分析仪）X-ray XDL
Helmut-Fischer, 德国
利用X射线分析物质成分的设备，用于金属合金成分分析、镀层厚度测定、异物检测等。可进行无损分析，在产品品质管理方面非常实用。
ICP（电感耦合等离子体光谱分析仪）Optima8000 (ICP-OES)
Perkin Elmer, 美国
通过测量高温等离子体中激发元素的发射光谱波长及发射强度，进行试样定性/定量分析的设备。可同时进行多元素分析，能够进行PPb级别的精密分析。
光学显微镜 BX-51
Olympus, 日本
用于精确观察金属表面微细结构、颗粒、缺陷等的光学显微镜。最大可放大1000倍观察，用于产品微细结构分析及品质检查。
UV/VIS（紫外可见分光光度计）OPTIZEN POP
KLAB, 韩国
在紫外线和可见光波段测量试样各波长的透过度或吸光度，从而确定浓度或纯度等定量特性的设备。用于溶液浓度分析及添加剂分析。